元器件产品及解决方案 > 产品中心 > 控制机器首页 > 工业控制 > 传感器 > 光电传感器・激光传感器 > 晶圆定位传感器 M-DW1(停产品) > 使用注意事项
本产品已经停止生产。
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灵敏度切换开关 | 灵敏度 | |
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最高灵敏度 (MAX) |
用于经过氮化膜或氧化膜处理的低反射率晶圆或薄型晶圆[0.3~0.4mm(注1)(注2)]。 | |
高灵敏度 (HIGH) |
最高灵敏度与通常灵敏度两种状态之间。 | |
通常灵敏度 (MID) |
用于抛光晶圆等高反射率晶圆或3mm间距的检测信号。 | |
低灵敏度 (LOW) |
可设定的最低灵敏度状态。 |
(注1): | 检测8英寸以下的晶圆时,可能会因晶圆间距、定位边或表面的状态等而影响检测。 |
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(注2): | 对于经研磨后厚度变薄的晶圆,如果其端面呈刀刃状,可能会因光线不能从检测面向受光方向反射而难以检测。 |
灵敏度切换开关 | 外部灵敏度切换输入 | 灵敏度 | |
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0~3V或 9V~+V (26.4V MAX.) |
ON | 最高灵敏度 (MAX) |
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断开或 4~8V | OFF | 通常灵敏度 (MID) |
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0~3V或 9V~+V (26.4V MAX.) |
ON | 高灵敏度 (HIGH) |
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断开或 4~8V | OFF | 低灵敏度 (LOW) |
(注1):灵敏度详情请参阅灵敏度切换设定。
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检测信号宽度
(1) | 输出宽度大于晶圆厚度的宽幅信号。 |
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(2) | 检测信号的宽度随检测端面的光反射率而变化。 高反射率(抛光、铝蒸镀等):检测信号宽度大 例): 晶圆厚度 t=0.6mm → 检测信号宽度 约1.5mm 低反射率(氮化膜、氧化膜处理等):检测信号宽度小 例): 晶圆厚度 t=0.6mm → 检测信号宽度 约1.1mm |
(3) | 检测信号的宽度随检测距离和检测角度而变化。 |
窄间距检测信号宽度
晶圆尺寸 | 通常间距 | 定位边长度 | 晶圆厚度 | 交叉间距小 | 交叉间距大 |
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3inch(75mm) | 4.75mm | 22.2mm | 0.380mm | 1.58mm | 3.17mm |
4inch(100mm) | 4.75mm | 32.5mm | 0.625mm | 1.54mm | 3.21mm |
5inch(125mm) | 4.75mm | 42.5mm | 0.625mm | 1.52mm | 3.23mm |
6inch(150mm) | 4.75mm | 57.5mm | 0.675mm | 1.43mm | 3.33mm |
8inch(200mm) | 6.35mm | 59.3mm | 0.725mm | 2.19mm | 4.16mm |
400-920-9200
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