元器件产品及解决方案 > 产品中心 > 控制机器首页 > 工业控制 > 检查・判别・测量用传感器 > 检查・判别・测量用传感器 > 超高速・高精度激光位移传感器 HL-C2
生产终止预定
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从近距离至远距离,备有四个不同的检测头。
长年积累的测量经验和最新数字技术相结合,
创造出优秀的三项基本性能。
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CE
、Korean KC
、FDA
、UKCA
已取得。
FDA : 仅一部分型号
为HL-C2系列开发了专用的HDLC-CMOS传感器。利用CMOS工艺技术和将信号处理电路集成于受光元件芯片上的“系统芯片”化技术,获得了高密度的受光元件和接近极限的处理速度。 HDLC:High Density Linear Cel
凭借自研的光学技术和光圈结构,实现了理想的激光。另外,投光量调整功能配备全新的算法,可保持优秀的投光状态。 MSGB:Micro Spot Gaussian Beam
利用高速处理专用IC和自研算法,可在检测头和控制器之间进行数字传输。兼顾测量值的高速传输和稳定性。 |
采用全新设计的高分辨率透镜,将透镜的像差降低到极小限度。可将任何角度的光线在受光部以极小点成像,实现了更高的精度。 |
采用投光、受光分离结构,可稳定测量
■HL-C201A-SP2(M)、HL-C201A-SP3(M)
采用激光投光部和受光部分离的结构,可通过相机镜头的中心轴捕捉检测点。
喷嘴的滴点与位移传感器的测量点 无法设为相同。 |
通过将滴点与测量点设成同轴,可实现稳定测量。 |
备有2种形状、2种类型,共4个机型。
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■HL-C203B(-MK)、HL-C205□(-MK)、HL-C208□(-MK)、HL-C211□(-MK)、HL-C235□E(-MK)、HL-C235CE-W(MK)
通过设定测量模式适应各种工件
可根据测量对象物体,选择相应的数字处理。
备有长距离检测头
备有测量中心距离110mm、350mm的长距离检测头。
通过加大工件间距离,可降低工件接触导致传感器损坏的风险。
·测量中心距离 110±15mm
HL-C211B(-MK)
HL-C211C(-MK)
·测量中心距离 300±50mm
HL-C235BE(-MK)
HL-C235CE(-MK)
·测量中心距离 300±200mm
HL-C235CE-W(MK)
备有线性光点型
按照各测量中心距离,备有不易受金属表面影响的线性光点型。
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通过设定测量模式适应各种工件
测量透明体或镜面体时,采用正反射安装。可根据测量用途选择数字处理。
可通过指定投光调整区域测量玻璃表面
搭配使用可调整相应投光量的“投光调整”和可指定投光调整区域的“投光调整区域指定”,可对玻璃表面进行准确测量。
配备了通过夹持方式进行的厚度测量及2点间间隙测量等基本运算式,可输出运算结果。
可减少上位控制器(PLC等)的运算处理。
备有支持Ethernet、USB、RS-232C的各种控制器。可连接电脑、PLC等。
※通过USB连接的电脑对控制器进行控制用的API(Application Programming Interface)和样本程序可从本公司网站上免费下载。
输出①和输出②分别配备了单独的“各模拟输出”、“各种输出(判定、报警等)”、“各种输入(投光停止、调零等)”。
缓冲功能是指将高速取样(10µs)获取的测量值暂时保存在控制器中,然后传送至上位设备的功能。
最多可保存65,000个值。形状数据的保存有助于追溯性管理等。
此外,触发模式通过将异常作为触发输入,可获取异常前后的测量值,有助于查明异常原因。
HL-C21C(-P)支持MEWTOCOL(本公司可编程控制器)、MC协议(三菱电机公司制 MELSEC-Q、MELSEC-L系列)、支持iQSS的专用协议(三菱电机公司制 MELSEC-L系列),因此“无需程序”便可将测量值等信息自动写入可编程控制器的数据寄存器。
※iQSS为三菱电机公司生产的iQ Sensor Solution。
搭配使用可编程显示器GT12、可在电脑上设定的工具软件(智能监控器HL-C2AiM、数据收集工具HL-C2AiG),除了测量值外,还可显示受光量波形等。
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