元器件产品及解决方案 > 产品中心 > 控制机器首页 > 工业控制 > 检查・判别・测量用传感器 > 检查・判别・测量用传感器 > 高速多点激光位移传感器 HL-D2000
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本产品仅限中国地区销售
X轴扫描点数2048,是以往的两倍,扫描频率最高可达10kHz
HDR高动态模式,检测稳定性升级
可按照测量需求选择反射面,更加方便测量
配备蓝光机型,可有效抑制二次反射干扰
2D模式测量项目全覆盖,包含隆起、凹陷、圆形等多种检测项目
使用配套2D控制软件“HL-D2000 SMI” ,可以通过程序选择器进行10组测量程序的选择。在每个测量程序组下面,可进行详细测量程序的选择,如可在“极值”组下属选择测量最大值点、最小值点、第一个点或最后一个点。此外可选择不同的测定值运算进行按需组合,实现测量应用的多样化。
HL-D2000传感器具有集成轮廓分析功能,即使没有PC,也能结合保存的配
置进行工作。
3D软件“HL-D2000 3D-View”可对通过2D测量系统记录的点数据进行三维可视化处理, 3D-View 以一种简单的方式经由以太网从2D测量系统传输轮廓数据,然后以三维方式显示这些数据。 此外,3D-View可导出和保存可视化数据,以便用于后续脱机分析。
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